Jornada de sistemas inteligentes de inspección
El día 21 de mayo se celebrará la Jornada de Sistemas Inteligentes de Inspección en el Parque Científico de la Universidad Carlos III de Madrid.
En dicho evento se mostrarán varios casos de éxito de sistemas de inspección en diversos ámbitos (infraestructura, industria, electrónica,...). Además, habrá una mesa redonda para recoger las mejores prácticas en inspección inteligente, una demostración en directo y una sesión de networking.
El evento está enmarcado dentro de la iniciativa europea EDIH Madrid Region para impulsar la digitalización de pymes y sector público (https://www.edihmadrid.es/). En esta iniciativa participa la Universidad Carlos III de Madrid junto a otros 10 socios bajo la coordinación de la Comunidad de Madrid.
Para participar es necesario inscribirse en el siguiente enlace.
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